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低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器檢測(cè)的*性

低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器的通用檢測(cè)方法消除了常見于傳統(tǒng)檢測(cè)方法中的難點(diǎn)，不同于紫外和熒光檢測(cè)器，低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器的響應(yīng)不依賴與樣品的光學(xué)特性，任何揮發(fā)性低于流動(dòng)相的樣品均能被檢測(cè)，不受其官能團(tuán)的影響。低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器的響應(yīng)值與樣品的質(zhì)量成正比，因而能用于測(cè)定樣品的純度或者檢測(cè)未知物。示差檢測(cè)器（RI）也可以說(shuō)是一種通用型檢測(cè)器，但它靈敏度低，并與梯度洗脫不相容。質(zhì)譜是另一種通用型檢測(cè)器，但它的昂貴操作費(fèi)用和復(fù)雜性限制了它的應(yīng)用。 的*檢測(cè)方法，對(duì)于它的多種用途和高性能至為關(guān)鍵。

 

低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器檢測(cè)步驟

檢測(cè)只要分為三個(gè)步驟：

（1）用惰性氣體霧化脫洗液

（2）低溫型蒸發(fā)光散射檢測(cè)器流動(dòng)相在加熱管（漂移管）中蒸發(fā)

（3）樣品顆粒散射光后得到檢測(cè)。